德国Supracon纳米线宽/光栅周期标准样品，兼容DUV深紫外、CLSM共聚焦、AFM多类显微设备，集成一维、二维、圆形多规格纳米光栅，覆盖80nm~2μm线宽校准区间，支持分辨率测试与光学像差检测，可出具PTB权威计量证书，适用于半导体、材料科研、第三方检测实验室仪器日常校准质控。

本款纳米尺度AFM-CD标准样品由德国SupraconAG研发生产，是面向原子力显微镜（AFM）的专业纳米级校准器件，核心用于AFM线宽、光栅周期等关键尺寸（CD）校准，同时可辅助评估AFM探针针尖形貌，适配纳米尺度精密测量场景。

SupraconF5AFM针尖标定片(一维线性光栅校准标准样品)nanoscaletipcharacterizerAFM
德国原装进口AFM专用一维线性光栅标定标准样品，依托高精度硅刻蚀工艺制作，搭载300/500/800nm多规格光栅结构，边缘曲率小于2nm，侧壁趋近垂直。
该产品可搭配各类商用AFM完成原位检测，测算探针针尖曲率半径、锥角等参数，识别针尖磨损、钝化、污染、双尖结构等问题，减少针尖效应带来的测量误差。产品支持PTB国际计量溯源，材质耐磨，可多次重复使用，广泛应用于纳米科研、半导体检测、计量校准、探针制造等场景，是保障AFM测试精度的常用质控耗材。