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AFM 针尖原位标定片nanoscale tip characterizer AFM

  • Supracon F5 AFM 针尖原位标定片nanoscale tip characterizer AFM

    暂无价格

    SupraconF5AFM针尖标定片(一维线性光栅校准标准样品)nanoscaletipcharacterizerAFM
    德国原装进口AFM专用一维线性光栅标定标准样品，依托高精度硅刻蚀工艺制作，搭载300/500/800nm多规格光栅结构，边缘曲率小于2nm，侧壁趋近垂直。
    该产品可搭配各类商用AFM完成原位检测，测算探针针尖曲率半径、锥角等参数，识别针尖磨损、钝化、污染、双尖结构等问题，减少针尖效应带来的测量误差。产品支持PTB国际计量溯源，材质耐磨，可多次重复使用，广泛应用于纳米科研、半导体检测、计量校准、探针制造等场景，是保障AFM测试精度的常用质控耗材。

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