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    德国Supracon纳米线宽/光栅周期标准样品，兼容DUV深紫外、CLSM共聚焦、AFM多类显微设备，集成一维、二维、圆形多规格纳米光栅，覆盖80nm~2μm线宽校准区间，支持分辨率测试与光学像差检测，可出具PTB权威计量证书，适用于半导体、材料科研、第三方检测实验室仪器日常校准质控。

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