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Modified USAF test with Siemens star 带西门子星综合标板
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商品说明
Modified USAF test with Siemens star 带西门子星综合标板产品简介一体化复合显微测试标板，同时集成 USAF 分级条纹与放射状西门子星图案，单块标板可完成多项成像指标检测，多用于高端科研显微设备验收与镜头研发测试。 产品特点USAF 条纹用于分辨能力检测，西门子星放射图案可观测镜头像散、色差、中心畸变；基底、镀膜、平面度参数与改良 USAF 标板保持一致。 应用方向科研显微镜整机验收、显微物镜研发测试、半导体高精度检测设备、高校光学实验室综合成像校准。 商品参数
基底：石英 芯片尺寸：10 x 10 x 1 mm³ 图案材料：500 nm PMMA |
