|
Modified USAF 改良 USAF 分辨率测试标板
收藏
商品说明
Modified USAF 改良 USAF 分辨率测试标板产品简介改良 USAF 分辨率标板基于 1951 USAF标条纹结构，采用高纯熔融石英基底，表面真空镀铬遮光层，光刻制备分级空间频率线条阵列，适用于光学、红外、荧光显微设备成像性能检测。 工作原理标板包含多组梯度线宽、线距条纹，通过观测显微镜可分辨最小线条尺寸，辅助判断物镜分辨能力、成像对比度、边缘还原表现。 产品特点熔融石英基底，紫外至中远红外透光表现平稳； 铬遮光层光学密度充足，成像对比度良好； 光刻线条边缘规整，尺寸偏差控制在较低区间； 基底平面度达标，减少测试离焦干扰。 应用方向 金相显微镜、荧光显微镜、红外显微系统、工业视觉镜头质检、半导体晶圆检测设备分辨率校验。 商品参数
基底：Si 芯片尺寸：10 x 10 mm² 纸样材质：金色 |
