荷兰空间研究所（SRON）目前正在开发一种频域复用（FDM）读出系统，作为欧空局领导的未来 ATHENA 任务中 X 射线积分场单元（X-IFU）仪器的基线和 X 射线钛金过渡边传感器（TES）微量子阵列的后备技术。 我们目前的 FDM 读出系统使用一组 18 个正弦交流载波（频率在 1 到 5 兆赫之间），在工作点对 TES 探测器进行偏置。 这是飞行模型基线读出系统的一个小版本，它将由 40 个像素的通道组成。 作为 X-IFU 仪器的备用选项，正在开发的另一种 X 射线 TES 读出技术是时分复用（TDM），其重要特点是 TES 采用直流偏置。 为了充分了解这两种读出方案之间的主要差异，进而了解大型阵列中相关器件的性能，值得对它们在直流和交流偏压下的功能和特性进行探究和比较。 必须说明的是，即使 TES 作为调制器工作，在恒压偏置下观察到的单个像素的良好性能也能保持。 本文通过 IV 曲线、复阻抗测量和噪声频谱，对阿拉贡材料科学研究所（ICMA）的 X 射线钛金 TES 微量热计在直流偏压和 SRON 的 3.5 MHz 交流偏压下的性能进行了初步比较。
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